Chuyên gia hướng dẫn cách sạc pin giúp kéo dài tuổi thọ điện thoại – Chuyên trang Kỷ nguyên số

Theo thời gian, pin của điện thoại, máy tính và nhiều thứ khác. hoặc một số thiết bị kỹ thuật số khác có thể sẽ bị hỏng, gây ảnh hưởng quan trọng đến thời gian sử dụng, thậm chí gây ra lỗi ảnh hưởng. Tuy nhiên, nếu tuân thủ một số nguyên tắc sạc sau đây, bạn sẽ có thể kéo dài tuổi thọ của điện thoại một cách đơn giản.

Thông thường, ắc quy sẽ có khả năng bị hỏng sau chu kỳ sử dụng khoảng 500-1.000 (khoảng 1,5 năm đến 3 năm) tùy theo nhà sản xuất. Một chu kỳ pin được đo bằng một lần sạc đầy từ 0 đến 100%.

Liz Hamilton, Giám đốc, Nhân sự và Khách hàng tại Mobile Klinik, một ngành công nghiệp khôi phục điện thoại di động, cho biết để kéo dài tuổi thọ của pin điện thoại, khách hàng có thể quan sát cách sạc ngắt quãng. .

Cụ thể, tốt nhất bạn phải sạc một bộ phận để giảm tốc quá trình chai pin, tối ưu nhất là sạc từ 25% và ngăn ở mức 80-85%. “Pin lithium-ion cũng sẽ chịu áp lực, một trong những nguyên nhân khiến pin bị chai là do điện thoại liên tục cắm sạc trên 100%. Nhiều người khác mắc chứng nghiện này và không hiểu tác hại mà nó gây ra cho pin,” Hamilton nói.

Ngoài ra, khách hàng không còn được sử dụng pin đã cạn kiệt (0%) mới cắm sạc, và khi sạc tốt nhất nên để còn 80-85% rồi rút sạc. Nếu bạn hoàn toàn sạc pin, chu kỳ pin sẽ tích tụ nhanh hơn, làm điều này liên tục có thể khiến nhạc cụ kỹ thuật số nhanh hết pin.

Hamilton cũng khuyên bạn nên giảm độ sáng màn hình, tắt các tính năng không sử dụng như vị trí, ứng dụng nền, thông báo và sử dụng chế độ Tiết kiệm năng lượng… để kéo dài tuổi thọ pin.

Tất nhiên, trên đây chỉ là những ý tưởng, bạn sẽ không gặp bất kỳ rủi ro nào nếu sạc điện thoại trong một ngày. Nhưng làm theo hướng dẫn có thể làm cho pin được lâu hơn, hạn chế tình trạng chai pin.

Nếu bạn thấy nó hữu ích, đừng quên chia sẻ bài viết trên Thời đại số để nhiều người trong chúng ta cùng biết hoặc để lại nhận xét khi gặp rắc rối trong quá trình sử dụng.

TIÊU MINH

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *